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您的位置:网站首页产品分类电学仪器电子测试仪器离线测试仪
  • LPICT-6C桌上型数字IC测试器

          桌上型设计,结构紧密,操作简单。 16字9x7点阵LCD显示,背光设计,光线不良的环境也可以操作自如...
  • LPICT-7A线性IC测试仪

          桌上型设计,结构紧密,操作简单 16字9×7点阵LCD显示,背光设计,光线不良的环境也可以操作自如...
  • Lp-2掌上型线性IC离线测试仪

          为测试线性 IC而设计 可测元件:OP、Operationgal Amplifiers、OPTO、Comparattors、REG、N555 Series、Transistor Array ...
  • Lp-1掌上型数位IC离线测试仪

          为测试数字 IC而设计 可测试元件:TTL54/74,CMOS 40/45,DRAM 41/44...
  • PT3100ABI记忆芯片离线测试仪

          可测试32脚以内SRAM、DRAM、30线以内SIMM、SIP,测试容量:16K--- 116M。 可自动测试芯片的好坏,也可先设定型号,再进行测试...
  • PT3200ABI手持式线性IC离线测试仪

          可测试16脚以内通用的模拟器件,包括运放、光耦、比较器、A/D、D/A、电压调节器及部分特殊模拟芯片...
全国免费咨询电话/Tel:400-066-5716或021-65658708     地址:上海市杨浦区国权路525号复华大厦副楼203、206室
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