| 垂直系统 |
TDS5052 |
TDS5054 |
TDS5104 |
| 输入通道 |
2 |
4 |
4 |
| 模拟带宽(-3dB) |
500 MHz |
500 MHz |
1000 MHz |
| 计算的上升时间5 mV/格 (典型) |
800 ps |
800 ps |
400 ps |
| 硬件带宽限制 |
150 MHz 或 20 MHz |
| 输入耦合 |
AC |
DC |
GND |
| 输入阻抗 |
1MΩ±1%或50Ω±1% |
| 输入灵敏度 |
1MΩ输入 |
1 mV/格到10 V/格 |
| 50Ω输入 |
1 mV/格到1 V/格 |
| 垂直分辨率 |
8 位，取平均值时大于11位 |
| 最大输入电压 |
1MΩ输入 |
在超过200 kHz 时，(150 V CAT I 在20 dB/10 时减至9 V RMS |
| 50Ω输入 |
5 V RMS ，峰值小于(30 V |
| DC 增益精度 |
1.5%，偏置设为0 V |
| 偏置范围，1MΩ |
1 mV/格-99.5 mV/格 ±1 V
100 mV/格-1 V/格 ±10 V
1.01 V/格-10 V/格 ±100 V |
| 偏置范围，50Ω |
1 mV/格-99.5 mV/格 ±1 V
100 mV/格-1 V/格 ±10 V
100 mV-500 mV ±5 V
1 mV-50 mV/格 ±0.5 V
50.5 mV-99.5 mV ±0.25 V
505 mV-1 V ±2.5 V |
| 在相等的垂直刻度时任意两条通道的通道间隔离 |
在≤100 MHz 时≥100:1 ，>100 MHz 时≥30:1 |
| 时基系统 |
|
| 时基范围 |
200 ps/格到40 s/格 |
| 时基延迟时间范围 |
16 ns 到 250 s |
| 通道间抗扭曲范围 |
±25 ns |
| 时间增量测量精度 |
±(0.30 采样间隔) + (15 ppm * 读数) |
| 触发抖动(RMS) |
10 ps RMS (典型) |
| 长期取样速率和延迟时间精度 |
在≥1 ms 间隔上±15 ppm |
| 采集系统 |
|
| 实时采样速率 |
|
| 1通道（最大） |
5GS/s |
5GS/s |
5GS/s |
| 2通道（最大） |
2.5 GS/s |
2.5 GS/s |
2.5 GS/s |
| 3-4通道（最大） |
1.25 GS/s |
1.25 GS/s |
|
| 等效取样速率（最大） |
250 GS/s |
250 GS/s |
250 GS/s |
| 每条通道最大记录长度：标准内存 |
400K（1通道）
200K（2通道） |
400K（1通道）
200K（2通道）
100K（4通道） |
400K（1通道）
200K（2通道）
100K（4通道） |
| 可选的1M内存 |
2M（1通道）
1M（2通道） |
|
