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AEL/TEP系列密度称量两用电子分析天平,它采用精密电子分析天平利用阿基米德定律,可对任何形状不规则的固体物质同时进行重量和比重的分析测量,适用于工矿企业,科研机构,大专院校实验室作质量比重的测量与分析。
TEP-300
分度值:1mg
重复性:1mg
线性:±1.5mg
称盘尺寸:φ40/φ80mm
液合尺寸:120×120×70mm
防风罩有效高度:200mm
外型尺寸:185×300×320mm