132 TEP-30 - 比重密度天平 - 天   平 - 实验室仪 - 产品分类 - 上海淞涵精密设备科技有限公司
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产品名称:TEP-30
产品编号:SL0105005
产地:中国

AEL/TEP系列密度称量两用电子分析天平,它采用精密电子分析天平利用阿基米德定律,可对任何形状不规则的固体物质同时进行重量和比重的分析测量,适用于工矿企业,科研机构,大专院校实验室作质量比重的测量与分析。
最大称量:30g/300g
分度值:1mg/10mg
重复性:1mg/10mg
线性:±1.5mg/±15mg
称盘尺寸:φ40/φ80mm
液合尺寸:120×120×70mm
防风罩有效高度:200mm
外型尺寸:185×300×320mm

全国免费咨询电话/Tel:400-066-5716或021-65658708     地址:上海市杨浦区国权路525号复华大厦副楼203、206室
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